С посещението на този сайт вие приемате използването на cookie. Повече за нашата политика cookie.

В 9450-76

ГОСТ Р 57283-2016 ГОСТ Р 56665-2015 ГОСТ Р 56667-2015 ГОСТ Р 56664-2015 ГОСТ Р 56666-2015 ГОСТ Р 56663-2015 ГОСТ Р 8.904-2015 Г. ГОСТ Р 56656-2015 ГОСТ Р ISO 4545-4-2015 ГОСТ Р ISO 4545-1-2015 ГОСТ Р ISO 20482-2015 ГОСТ Р 56186-2014 ГОСТ Р 55047-2012 ГОСТ Р 56187-2014 ГОСТ Р 56185-2014 ГОСТ Р 55043-2012 ГОСТ Р ISO 10113-2014 В ISO 7800-2013 ГОСТ Р ISO 148-1-2013 ГОСТ Р ISO 7438-2013 ГОСТ Р 55807-2013 ГОСТ Р 55806-2013 ГОСТ Р 55805-2013 ГОСТ Р 55045-2012 ГОСТ Р 55044-2012 ГОСТ Р 55046-2012 ГОСТ Р 8.748-2011 ГОСТ Р 53966-2010 ГОСТ Р 53965-2010 ГОСТ Р 53568-2009 ГОСТ Р ISO 2566-1-2009 ГОСТ Р ISO 2566-2-2009 В 31244-2004 ГОСТ Р 52889-2007 ГОСТ Р 53205-2008 ГОСТ Р 52891-2007 ГОСТ Р 53204-2008 ГОСТ Р 52890-2007 ГОСТ Р 53006-2008 В 7564-97 В 25.503-97 В 18227-98 В 14019-2003 В 18661-73 В 8.044-80 В 17367-71 В 2999-75 В 9450-76 В 22762-77 В 22706-77 В 23273-78 В 10510-80 В 3565-80 В 8693-80 В 3248-81 В 8.426-81 В 25172-82 В 7268-82 В 8817-82 В 8.509-84 В 11701-84 В 26446-85 В 13813-68 В 18835-73 В 8818-73 В 22761-77 В 9454-78 В 10145-81 В 25095-82 В 11150-84 В 9651-84 В 28868-90 В 9013-59 В 22975-78 В 23677-79 В 8.398-80 В 26007-83 В 25282-93 В 30003-93 ГОСТ Р 52764-2007 В 22848-77 В 30456-97 В 1497-84 В 10006-80 В 25.502-79 В 25.505-85 В 25.506-85 ГОСТ Р 52731-2007 ГОСТ Р 52727-2007

В 9450−76 (ЧЛ CMSA 1195−78) Измерване на микротвердости вдавливанием диамантени накрайници (с Промените, N 1, 2)

В 9450−76
(ЧЛЕН CMSA 1195−78)

Група Т59

ДЪРЖАВЕН СТАНДАРТ СЪЮЗА НА ССР

ИЗМЕРВАНЕ НА МИКРОТВЕРДОСТИ
ВДАВЛИВАНИЕМ ДИАМАНТЕНИ НАКРАЙНИЦИ

Measurements microhardness by diamond instruments indentation

Дата на въвеждане 1977−01−01

ИНФОРМАЦИОННИ ДАННИ

1. РАЗРАБОТЕНА И ВЪВЕДЕНА Академия на науките на СССР

РАЗРАБОТЧИЦИТЕ:

Матвеевский Р. М., д-р техн. науки (ръководител тема); Беркович Д. В., канд. техн. науките; Рыньков R. H., канд. техн. науки

2. ОДОБРЕНИ И ВЪВЕДЕНИ В ДЕЙСТВИЕ на Постановление на Държавния комитет на стандартите на Съвета на Министрите на СССР от 09.01.76 г. N 68

3. Срокът за проверка от 1996 г.;

периодичността на проверка — 5 години

4. РЕФЕРЕНТНИТЕ РЕГУЛАТОРНИ И ТЕХНИЧЕСКИ ДОКУМЕНТИ

Наименование NTD,
на който дадена връзка
Номер на точка, алинея, регистрация, приложения
В 2789−73
4.1
В 9377−81
Приложение 2
ТУ 3−3.1377−83
3.1; 3.2; 3.4; 3.5

5. Проверени през 1991 г. с Постановление на Госстандарта N 1665 от 29.10.91 премахнато ограничение на срока на действие на

6. ПРЕИЗДАВАНЕ (март 1993 г.) с Промените, N 1, 2, одобрени в септември 1981 г., октомври 1991 г. (ИУС 11−81, 1−92)


Този стандарт определя метод за измерване на микротвердости продукти и проби от метали, сплави, минерали, стъкло, пластмаси, полупроводници, керамика, тънки листове, фолио, филми, галванични, дифузия, химически осажденных и электроосажденных покрития вдавливанием диамантени накрайници.

Темите материали на твърдост са ограничени изделия (образци) от диамант и техните производни.

Стандарт определя две метод за изпитване:

за невъзстановими отпечатку (основен метод);

по невосстановленному отпечатку (допълнителен метод).

Този стандарт съответства на ЧЛ CMSA 1195−78 в частта измерване на микротвердости метали по метода на възстановеното отстъпи четырехгранной пирамида с квадратна основа (по Викерс).

1. ИЗПИТВАНЕ ПО МЕТОДА НА ВЪЗСТАНОВЕНОТО ЗА ПЕЧАТ

1.1. Тест за микротвердость вдавливанием по метода на възстановеното печат е да се нанася върху испытуемую повърхността на продукта (проба) отстъпи под действие на статично натоварване, приложена към алмазному наконечнику в рамките на определен период от време. След премахване на натоварването и измерване на параметрите, получени на печат брой микротвердости следва да се определят по формули (вж. бр.1.4−1.7) или на директорите.1−28, както е определено в приложение 1.

1.2. При изпитване трябва да се прилага диамантени накрайници, форма на работната част на които трябва да съответства на указаната в таблица. Инструкции за избора на накрайници са дадени в приложение 2.

1.3. Брой микротвердости определят разделяне на приложената към алмазному наконечнику нормалното натоварване на условна части на страничната повърхност на получения отпечатък.

1.4. За четырехгранной пирамида с квадратна основа на броя на микротвердости ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)изчисляват по формулата

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2), (1)


ако ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)изразени в нютона

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2),


ако ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)изразена в кг-възможно).

1.5. За трехгранной пирамида с основа под формата на равностранен триъгълник брой микротвердости ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)изчисляват по формулата

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2), (2)


ако ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)изразени в нютона

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2),


ако ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)изразена в кг-възможно).

1.6. За четырехгранной пирамида с ромбическим основа на броя на микротвердости ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)изчисляват по формулата

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2), (3)


ако ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)изразени в нютона

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2),


ако ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)изразена в кг-възможно).

1.7. За бицилиндрического на върха брой микротвердости (ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)) трябва да се изчисли по формулата

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2), (4)


ако ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)изразени в нютона

(ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)е,


ако ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)изразена в кг-възможно).

Във формули (1)-(4) нотация:

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2) — нормално натоварване, приложена към алмазному наконечнику, Н (кпс);

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2) — условно части на страничната повърхност, получени на печат, mmГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2);

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2) — размер на печат, mm;

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2) — средно аритметично дължини на двете диагонали на квадратен печат, mm;

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2) — радиус на цилиндъра, равен на 2 mm;

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)и ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2) — ъгли различни заострений диамантени накрайници, дроб

ад

1.8. Микротвердость, определена за рр.1.4−1.7, означаваме съответно ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2), ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2), ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)и ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)с индикация на натоварването на кпс и продължителността на нейното приложение. За микротвердости ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)продължителност на прилагане на натоварването не е точка, ако тя е в рамките на 10−15 с.

Приоритетите в дейността


Микротвердость, определена четырехгранной пирамида с квадратна основа при натоварване 0,098 Н, приложена в продължение на 15 с: ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)0,01.

Микротвердость, определена четырехгранной пирамида с квадратна основа при натоварване 0,98 Н, приложена в продължение на 30 с: ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)01/30.

Микротвердость, определена трехгранной пирамида с основа под формата на равностранен триъгълник при натоварване 0,0491 Н, приложена в продължение на 5 с: ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)0,005/5.

Микротвердость, определена четырехгранной пирамида с ромбическим основа при натоварване 0,098 Н, приложена в продължение на 10 от: ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)0,01/10.

2. ИЗПИТВАНЕ ПО МЕТОДА НА НЕВОССТАНОВЛЕННОГО ЗА ПЕЧАТ

2.1. Определение микротвердости вдавливанием по метода на невосстановленного печат е да се нанася върху испытуемую повърхността на продукта (проба) отстъпи под действие на статично натоварване, приложена към алмазному наконечнику в рамките на определен период от време, с едновременното измерване на дълбочината за печат. Брой микротвердости трябва да се определят по формули (5)-(8).

2.2. Изпитване по метода на невосстановленного вдлъбнатина трябва да се извършва, когато са необходими допълнителни характеристики на материала (еластична възстановяване, релаксация, пълзене при нормална температура).

2.3. При изпитване се използват диамантени накрайници с форма на работната част, посочена в таблицата.

2.4. Брой микротвердости определят разделяне на приложената към алмазному наконечнику нормалното натоварване на условна части на страничната повърхност за печат, която отговаря на неговите измерена дълбочина.

2.5. За четырехгранной пирамида с квадратна основа на броя на микротвердости ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)изчисляват по формулата

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2), (5)


ако ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)изразени в нютона

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2),


ако ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)изразена в кг-възможно).

2.6. За трехгранной пирамида с основа под формата на равностранен триъгълник брой микротвердости ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)изчисляват по формулата

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2), (6)


ако ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)изразени в нютона

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2),


ако ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)изразена в кг-възможно).

2.7. За четырехгранной пирамида с ромбическим основа на броя на микротвердости ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)изчисляват по формулата

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2), (7)


ако ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)изразени в нютона;

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2),


ако ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)изразена в кг-възможно).

2.8. За бицилиндрического на върха брой микротвердости (ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)) изчисляват по формулата

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2),


ако ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)се изразява в нютона;

(ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)е,


ако ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)изразена в кг-възможно).

Във формули (5)-(8) нотация:

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2) — нормално натоварване, приложена към алмазному наконечнику, Н (кпс);

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2) — условно части на страничната повърхност, получени на печат, mmГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2);

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2) — дълбочина на печат, mm.

2.9. Формула (5), (6), (7) и (8) са получени от съотношенията между размера ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)или ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)и височина ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)строги геометрични тела форми на работна част от диамант накрайници (виж таблицата):

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2);

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2);

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2);

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)

Наименование на диамантени накрайници
Параметри на заострения диамантени накрайници
Форма на разпечатките
1. Четиристранна пирамида с квадратна основа

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)


ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)°

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)

2. Трехгранная пирамида с основа под формата на равностранен триъгълник

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)


ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2); ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2); ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)

3. Четиристранна пирамида с ромбическим основание

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)


ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2); ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)

4. Бицилиндрический съвет

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)


ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2);
ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)мм — радиус на цилиндъра

ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)

2.10. Микротвердость, определена за рр.2.5−2.8, обозначен, съответно ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2), ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2), ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)и ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)с индикация на натоварването на кпс и продължителността на нейното приложение.

Приоритетите в дейността


Микротвердость, определена по височина невосстановленного отстъпи четырехгранной пирамида с квадратна основа при натоварване 0,098 Н, приложена в продължение на 15 c: ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)0,01/15.

Микротвердость, определена по височина невосстановленного отстъпи бицилиндрическим фитил при натоварване 0,0491 Н, приложена в продължение на 5 с: ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)0,005/5.

3. АПАРАТУРА

3.1. За измерване на микротвердости диамантени топчета се използват уреди по ЕДНА и 3−3.1377−83.

3.2. Уреди комплектуют диамантени топчета в съответствие с изискванията, установени в ЕДНА и 3−3.1377−83.

3.3. В процеса на изпитване на уреда за измерване на микротвердости трябва да осигури спазването на следните условия:

плавно въвеждането на диамантения на върха в тестов материал под действието на приложени към него нормалното натоварване ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2);

запазването на постоянство на действие на приложена към алмазному наконечнику натоварване в рамките на срока;

забранени грешка нагружения не трябва да надвишава:

за много от 0,1 Н и на по-малко от 2% от номиналната стойност;

за много по-0,1 H — 1% от номиналната стойност.

3.4. Уредът трябва да бъде защитен от въздействието на възможни вибрации, предавани чрез стените, пода на сгради или през масата, на която е монтиран уред, амортизирующим устройство, предвидени в ТАЗИ 3−3.1377−83.

3.5. Проверка на уреди преди теста — по ЕДНА и 3−3.1377−83.

3.6. Уредът трябва да бъде снабден с микроскоп, за да точка на отпечатъци. Калибровочный този микроскоп трябва да бъде инсталиран така, че грешката не трябва да надвишава ±0,5% от измерени стойности.

Минимално увеличение на микроскоп трябва да бъде:

200ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2) — за пръстови над 25 микрона;

300ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2) — за отпечатъци от 76 до 125 микрона;

400ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2) — за отпечатъци от по-малко от 76 микрона.

Забележка. За измерване на печат при увеличаване на 200ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)се използва обектив с отвор на не по-малко от 0,4.

4. ПОДГОТОВКА ЗА ТЕСТА

4.1. Повърхността на изпит изделия (проба) трябва да бъде свободен от замърсяване на участък за нанасяне на надписи. Грапавост испытуемой повърхността на продукта (проба) не трябва да бъде по-груба ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)хм, дефинирани в 2789−73.

4.2. При подготовката на повърхността на изпит изделия (проба) трябва да се вземат предпазни мерки, като се има предвид възможна промяна на твърдостта на испытуемой повърхността в резултат на загряване или наклепа при механична обработка.

4.3. Испытуемое продукт (проба) трябва да бъде инсталиран на обективна масичката уреда така, че в процеса на изпитването не смещалось, не прогибалось и не поворачивалось.

4.4. Повърхността на продукта (проба), платима на изпитание, трябва да се монтира перпендикулярно на оста на диамантени дюзи.

4.5. Работна повърхност на диамантени дюзи и повърхността на изпит изделия трябва да се съхраняват на сухо (без смазване).

5. ПРОВЕЖДАНЕ НА ТЕСТА

5.1. При изпитване на материали изделия (проба) на микротвердость вдавливанием се използва натоварване 0,049 (0,005); 0,0981 (0,01); 0,1962 (0,02); 0,4905 (0,05); 0,981 (0,1); 1,962 (0,2) или 0,0491 (0,005); 0,0981 (0,01); 0,1962 (0,02); 0,4905 (0,05); 0,981 (0,1); 1,962 (0,2); 4,905 (0,5) Н (csc).

При определяне на микротвердости метали четырехгранной пирамида с квадратна основа е позволено да се прилага натоварване 0,0098 (0,001); 0,0196 акции (0,002) и 2,943 (0,3) Н (csc).

5.2. (Изключен, Изъм. (2).

5.3. За да получите най-точен резултат за измерване микротвердости натоварване ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)трябва да бъде възможно по-голяма.

5.4. От страна На изделия (проба), другата испытуемой, след нанасяне на надписи не трябва да има следи от деформация на материала, видими с невъоръжено око.

5.5. При измерване на микротвердости покрития от хомогенен материал (галванични, дифузия, цементованных и други) върху метал или други материали натоварване ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)трябва да бъде по-малко, отколкото на по-тънък слой покритие. Ако дебелината на изследвания слой е неизвестен, не е препоръчително да се извършват няколко измервания при различни натоварвания: 0,098; 0,196; 0,490; 0,981 Н и т.н.

Ако материалът основи [в сърцевината на продукта (проба)] не влияе върху резултата от измерване, стойност микротвердости те съвпадат или са близки един до друг.

Ако стойностите на микротвердости при возрастании натоварването ще намалее или се увеличи, тогава натоварването трябва да се намали, докато две преходни натоварване не ще даде съвпадащи или близки един до друг резултати.

5.6. Разликата размери ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)или ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)един печат не трябва да надвишава 3% от по-малките стойности.

5.7. Разстоянието от центъра на печат до ръба на продукта (проба) трябва да бъде не по-малко двоен размер за печат. Разстояние между центровете на пръстови се отлагат върху една повърхност, трябва да надвишава размера за печат на повече от три пъти.

5.8. Нагружение трябва да се извършва плавно, без трусове. Скорост на спускане с диамантени дюзи не трябва да се отразява на размера на печат. Продължителност на експозицията трябва да бъде не по-малко от 3 в.

5.9. Измерване на размери пръстови се извършва на общината в светлата полето с грешка отсчитывания ±0,5 от най-малко деление на скалата при обектива увеличаване на 30−40 (цифровата апертура ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)).

5.10. Изпитването се извършва при температура на околната среда (20±5) °C.

5.11. Броят на разпечатките и мястото на прилагане на продукта (проба) трябва да бъде поставено в административно-техническата документация на конкретни изделия.

5.12. При измерване на микротвердости изделия (образец) с криволинейной повърхността, когато радиус на кривина на един-два порядъка по-голям размер на печат, броя на микротвердости има условно значение — за сравнение микротвердости повърхности еднаква криви.

5.13. При измерване на микротвердости изделия (проби) ад, порести, анизотропных материал, когато изискванията на ал.4.1 и 5.3−5.7 невыполнимы, грапавост на повърхността, стойността на натоварването, времето нагружения и експозицията е под товар, допустимото изкривяване на формата на щампи, съотношението между минимална дебелина на слоя (проба) и дълбочина на печат, въвеждането на поправочных коефициент на кривина на повърхността трябва да бъде поставено в административно-техническата документация на конкретни изделия.

6. ОБРАБОТКА НА РЕЗУЛТАТИТЕ

6.1. Стойността на микротвердости изчисляват по формули (1)-(8) или се намират в таблиците на приложение 1.

6.2. Размери ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)или ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)надписи по него измерена дълбочина ГОСТ 9450-76 (СТ СЭВ 1195-78) Измерение микротвердости вдавливанием алмазных наконечников (с Изменениями N 1, 2)се намират в таблицата на приложение 3.

6.3. За брой микротвердости вземат средно аритметично на резултатите от отделните измервания.

6.4. Брой микротвердости разрешава се закръглят до най-много единици, при двухзначных и по-стойности до един-два десетични знака — при едноцифрени. Относителна грешка при закръгляне на броя на микротвердости не трябва да надвишава 2% от измерена величина микротвердости.

6.5. В протокола на изпитването, трябва да се посочи:

наименование тестван изделия (образец);

тип на уреда с посочване характеристики прилага оптика (обектив, окуляр);

наименование микротвердости;

размери на пръстови;

стойността на микротвердости.