С посещението на този сайт вие приемате използването на cookie. Повече за нашата политика cookie.

В 26239.5-84

ГОСТ Р ISO 15353-2014 ГОСТ Р 55080-2012 ГОСТ Р ISO 16962-2012 ГОСТ Р ISO 10153-2011 ГОСТ Р ISO 10280-2010 ГОСТ Р ISO 4940-2010 ГОСТ Р ISO 4943-2010 ГОСТ Р ISO 14284-2009 ГОСТ Р ISO 9686-2009 ГОСТ Р ISO 13899-2-2009 В 18895-97 В 12361-2002 В 12359-99 В 12358-2002 В 12351-2003 В 12345-2001 В 12344-88 В 12350-78 В 12354-81 В 12346-78 В 12353-78 В 12348-78 В 12363-79 В 12360-82 В 17051-82 В 12349-83 В 12357-84 В 12365-84 В 12364-84 ГОСТ Р 51576-2000 В 29117-91 В 12347-77 В 12355-78 В 12362-79 В 12352-81 ГОСТ Р 50424-92 ГОСТ Р 51056-97 ГОСТ Р 51927-2002 ГОСТ Р 51928-2002 В 12356-81 ГОСТ Р ISO 13898-1-2006 ГОСТ Р ISO 13898-3-2007 ГОСТ Р ISO 13898-4-2007 ГОСТ Р ISO 13898-2-2006 ГОСТ Р 52521-2006 ГОСТ Р 52519-2006 ГОСТ Р 52520-2006 ГОСТ Р 52518-2006 В 1429.14-2004 В 24903-81 В 22662-77 В 6012-2011 В 25283-93 В 18318-94 В 29006-91 В 16412.4-91 В 16412.7-91 В 25280-90 В 2171-90 В 23401-90 В 30642-99 В 25698-98 В 30550-98 В 18898-89 В 26849-86 В 26876-86 В 26239.5-84 В 26239.7-84 В 26239.3-84 В 25599.4-83 В 12226-80 В 23402-78 В 1429.9-77 В 1429.3-77 В 1429.5-77 В 19014.3-73 В 19014.1-73 В 17235-71 В 16412.5-91 В 29012-91 В 26528-98 В 18897-98 В 26529-85 В 26614-85 В 26239.2-84 В 26239.0-84 В 26239.8-84 В 25947-83 В 25599.3-83 В 22864-83 В 25599.1-83 В 25849-83 В 25281-82 В 22397-77 В 1429.11-77 В 1429.1-77 В 1429.13-77 В 1429.7-77 В 1429.0-77 В 20018-74 В 18317-94 ГОСТ Р 52950-2008 ГОСТ Р 52951-2008 В 32597-2013 ГОСТ Р 56307-2014 В 33731-2016 В 3845-2017 ГОСТ Р ISO 17640-2016 В 33368-2015 В 10692-2015 ГОСТ Р 55934-2013 ГОСТ Р 55435-2013 ГОСТ Р 54907-2012 В 3845-75 В 11706-78 В 12501-67 В 8695-75 В 17410-78 В 19040-81 В 27450-87 В 28800-90 В 3728-78 В 30432-96 В 8694-75 ГОСТ Р ISO 10543-99 ГОСТ Р ISO 10124-99 ГОСТ Р ISO 10332-99 В 10692-80 ГОСТ Р ISO 17637-2014 ГОСТ Р 56143-2014 ГОСТ Р ISO 16918-1-2013 ГОСТ Р ISO 14250-2013 ГОСТ Р 55724-2013 ГОСТ Р ISO 22826-2012 ГОСТ Р 55143-2012 ГОСТ Р 55142-2012 ГОСТ Р ISO 17642-2-2012 ГОСТ Р ISO 17641-2-2012 ГОСТ Р 54566-2011 В 26877-2008 ГОСТ Р ISO 17641-1-2011 ГОСТ Р ISO 9016-2011 ГОСТ Р ISO 17642-1-2011 ГОСТ Р 54790-2011 ГОСТ Р 54569-2011 ГОСТ Р 54570-2011 ГОСТ Р 54153-2010 ГОСТ Р ISO 5178-2010 ГОСТ Р ISO 15792-2-2010 ГОСТ Р ISO 15792-3-2010 ГОСТ Р 53845-2010 ГОСТ Р ISO 4967-2009 ГОСТ 6032-89 В 6032-2003 В 7566-94 В 27809-95 В 22974.9-96 В 22974.8-96 В 22974.7-96 В 22974.6-96 В 22974.5-96 В 22974.4-96 В 22974.3-96 В 22974.2-96 В 22974.1-96 В 22974.13-96 В 22974.12-96 В 22974.11-96 В 22974.10-96 В 22974.0-96 В 21639.9-93 В 21639.8-93 В 21639.7-93 В 21639.6-93 В 21639.5-93 В 21639.4-93 В 21639.3-93 В 21639.2-93 В 21639.0-93 В 12502-67 В 11878-66 В 1763-68 В 13585-68 В 16971-71 В 21639.10-76 В 2604.1-77 В 11930.7-79 В 23870-79 В 11930.12-79 В 24167-80 В 25536-82 В 22536.2-87 В 22536.11-87 В 22536.6-88 В 22536.10-88 В 17745-90 В 26877-91 В 8233-56 В 1778-70 В 10243-75 В 20487-75 В 12503-75 В 21548-76 В 21639.11-76 В 2604.8-77 В 23055-78 В 23046-78 В 11930.11-79 В 11930.1-79 В 11930.10-79 В 24715-81 В 5639-82 В 25225-82 В 2604.11-85 В 2604.4-87 В 22536.5-87 В 22536.7-88 В 6130-71 В 23240-78 В 3242-79 В 11930.3-79 В 11930.5-79 В 11930.9-79 В 11930.2-79 В 11930.0-79 В 23904-79 В 11930.6-79 В 7565-81 В 7122-81 В 2604.3-83 В 2604.5-84 В 26389-84 В 2604.7-84 В 28830-90 В 21639.1-90 В 5640-68 В 5657-69 В 20485-75 В 21549-76 В 21547-76 В 2604.6-77 В 22838-77 В 2604.10-77 В 11930.4-79 В 11930.8-79 В 2604.9-83 В 26388-84 В 14782-86 В 2604.2-86 В 21639.12-87 В 22536.8-87 В 22536.0-87 В 22536.3-88 В 22536.12-88 В 22536.9-88 В 22536.14-88 В 22536.4-88 В 22974.14-90 В 23338-91 В 2604.13-82 В 2604.14-82 В 22536.1-88 В 28277-89 В 16773-2003 В 7512-82 В 6996-66 В 12635-67 В 12637-67 В 12636-67 В 24648-90

В 26239.5−84 Силиций полупроводници и кварц. Метод за определяне на примеси (с Промяната N 1)


В 26239.5−84

Група В59


ДЪРЖАВЕН СТАНДАРТ СЪЮЗА НА ССР

СИЛИЦИЙ ПОЛУПРОВОДНИЦИ И КВАРЦ

Метод за определяне на примеси

Semiconductor silicon and quartz. Method of impurities determination


ОКСТУ 1709

Срокът на действие с 01.01.86
до 01.01.91*
________________________________
* Ограничаване на срока на действие на премахнато
протокол N 7−95 Магистралата Съвет
по стандартизация, метрология и сертификация
(ИУС, N 11, 1995 година). — Забележка на производителя на базата данни.



РАЗРАБОТЕН от Министерството на цветната металургия на СССР

ИЗПЪЛНИТЕЛИ

Ю. А. Шаран, М. Н. Щулепников, М. К. Винников, Г. Г. Главин, Н. А. Градскова, Оа Век Завьялов, Т. И. Зяблова В. Д. Куин, В. А. Росен, I. A. Данка, Н. И. Марунина В. Г. Мискарьянц В. М. Михайлов, М. Г. Назарова В. А. Орлова, Va Im Степанов, Н. С. Сысоева, Av, Vi, Ivana, G. I. Александрова

РЕГИСТРИРАН на Министерството на цветната металургия на СССР

Член На Борда На А. П. Снурников

ОДОБРЕНИ И ВЪВЕДЕНИ В ДЕЙСТВИЕ на Постановление на Държавния комитет на СССР по стандартите от 13 юли 1984 г. N 2490

Изменено с постановление N 1, одобрен и въведеното в действие от 01.01.91 постановление Госстандарта на СССР от 26.06.90 N 1847

Промяна N 1 извършени от производителя на база данни по въпросите на ИУС, N 10, 1990 година


Този стандарт определя нейтронно-активационный метод за определяне на примеси в нелегированном полупроводниковом силиций и кварце на интервали от стойности на масови акции на примеси:

   
волфрам

от 1·от 10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)до 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%

арсенид

от 2·от 10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)до 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%

европия

от 1·от 10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)до 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%

желязо

от 2·от 10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)до 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%

злато

от 1·от 10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)до 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%

индия

от 1·от 10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)до 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%

кобалт

от 1·от 10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)до 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%

lantana

от 1·от 10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)до 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%

лютеция

от 1·от 10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)до 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%

мед

от 1·от 10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)до 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%

молибден

от 1·от 10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)до 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%

арсен

от 1·от 10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)до 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%

натрий

от 1·от 10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)до 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%

никел

от 2·от 10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)до 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%

скандия

от 1·от 10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)до 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%

сребро

от 1·от 10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)до 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%

антимон

от 1·от 10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)до 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%

тантала

от 1·от 10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)до 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%

хром

от 1·от 10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)до 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%

цинк

от 1·от 10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)до 1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%


Методът не се прилага за анализ на силиций марки ПРОДАВА-0,01 и КАМ-0,01.

Поносите, Изъм. N 1).

1. ОБЩИ ИЗИСКВАНИЯ

1.1. Общи изисквания към метода на анализ — в 26239.0−84.

2. АПАРАТУРА, МАТЕРИАЛИ И РЕАКТИВИ


Ядрен реактор с плътност на потока неутрони 0,5−1·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)неутрон/(cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)·с) и кадмиевым отношение на злато в канала за облъчване на проби, равна 2−5.

Гама-спектрометър, състоящ се от многоканален анализатор (брой канали анализатор не по-малко от 2000), блок за усилване на сигнали, полупроводникови германиевого или германий-литиево-йонна детектор с фотоэффективностью регистрация на гама-кванти линия ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)От с енергия 1332 производство не по-малко от 1,5% (в ъгъла ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)). Отношението пик/комптън за ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)С не по-малко от 30:1. Резолюция на не повече от 3 производство на линия ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)С с енергия 1332 производство.

Бокс защитен вид 1Б11−1НЖ.

Оловен Контейнер транспортен марка КЛ-10,0 с дебелина на стената 100 mm.

Контейнер полето за тенис на марка на КАТ-10 с дебелина на стената 10 мм

Средства за индивидуална защита от радиация и замърсяване с радиоактивни вещества, в съответствие с Основните санитарни правила СУАПОВЕ 72/87*.
_______________
* На територията На Руската Федерация документ не действа. Действат SP 2.6.1.799−99. — Забележка на производителя на базата данни.

Пеналы алуминиеви, изработени от алуминий марка 995-А.

Радиометър «Тисс».

Комплект водещ пример стандартни гама излъчватели (ОСГИ).

Филтри обеззоленные «синя лента».

Алуминиево фолио марка 995-И дебелина от 0,05−0,1 mm, В 618−73.

Колби мерителни с капацитет от 50, 100, 1000 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1).

Цилиндри мерителни с капацитет за 10 и 25 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1).

Микропипетки 0,1 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)(първа класа).

Чаши фторопластовые с капацитет от 150 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1).

Буркани стъклени химически капацитет от 100 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1).

Шкаф за фурна с температура до 150 °C.

Печка муфельная тип MP-2УМ.

Азот течен И 9293−74.

Хаван и чукало от ахат или яспис.

Плочки електрически.

Везни лабораторни И 24104−88*.
_______________
* На територията На Руската Федерация документ не действа. Действа ГОСТ Р 53228−2008. — Забележка на производителя на базата данни.

Везни микроаналитические тип ВЛМ-1 г.

Лампа инфрачервена радиация тип ИКЗ-220−500.

Ацетон в 2603−79.

Водата е дестилирана И 6709−72.

Блокирането на особена чистота И 14261−77.

Киселина азотна особена чистота И 11125−78*.
______________
* На територията На Руската Федерация документ не действа. Действа В 11125−84. — Забележка на производителя на базата данни.


Киселина фтористоводородная в 10484−78.

Киселина сярна особена чистота И 14262−78.

Натриев хидроксид концентрирани в 4328−77.

Натрий сернокислый пиро И 18344−78*.
______________
* На територията На Руската Федерация документ не действа. Действат Т. У. 6−09−5404−88** (ИУС, N 3, 1989 година);
** Документът е авторство. За повече информация вижте линка. — Забележка на производителя на базата данни.

Амоний виннокислый в 4951−79*.
______________
* На територията На Руската Федерация документ не действа. Действат Т. У. 6−09−08−2007−89** (ИУС, N 12, 1989 година);
** Документът е авторство. За повече информация вижте линка. — Забележка на производителя на базата данни.

Етилов алкохол ректификованный технически И 18300−87.


Амоний молибденовокислый в 3765−78, селскостопанска ч.

Галлий метален в 12797−77.

Желязо карбонильное радиотехническое по — ГОСТ 13610–79, марка ПС.

Европия оксид чистота 99,9%.

Злато И 6835−80*.
______________
* На територията На Руската Федерация документ не действа. Действа В 6835−2002. — Забележка на производителя на базата данни.


Индий е метална И 10297−75*.
______________
* На територията На Руската Федерация документ не действа. Действа В 10297−94. — Забележка на производителя на базата данни.


Калий двухромовокислый в 4220−75, селскостопанска ч., изсушен до постоянна маса при температура 140 °C.

Кобалт метален в 123−78*, марка За-1.
______________
*На територията На Руската Федерация документ не действа. Действа В 123−2008. — Забележка на производителя на базата данни.


Силиций полупроводници, марка CP-1−6.

Lantana оксид чистота 99,9%.

Лютеция оксид чистота 99,9%.

Мед метална порошкообразная в 859−78*, марка М3.
______________
* На територията На Руската Федерация документ не действа. Действа В 859−2001. — Забележка на производителя на базата данни.


Арсен метален чистота 99,9%.

Натрий вольфрамовокислый 2-водна И 18289−78, селскостопанска ч.

Натрий натриев хлорид в 4233−77, селскостопанска ч., изсушен до постоянна маса.

Никел оксид черен И 4331−78, чаена

Сребро азотнокислое в 1277−75, селскостопанска ч.л. сушен до постоянна маса при температура 140 °C.

Скандия оксид чистота 99,9%.

Антимон метална И 1089−82, марка Cy-0000.

Тантала пятиокись чистота 99,9%.

Цинк метал И 3640−79*.
______________
* На територията На Руската Федерация документ не действа. Действа В 3640−94. — Забележка на производителя на базата данни.


Стандартен разтвор на натрий, съдържащ 0,01 мг/смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)натрий: 0,0254 г натриев хлорид, сушени до постоянна маса, се поставя в мерителна колба с капацитет 1000 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)и се разтваря в дестилирана вода, довежда се до марката, разбърква се добре.

Стандартен разтвор на сребро, съдържащ 0,002 mg/смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)сребро: 0,00315 г азотнокислого сребро се поставят в мерителна колба с капацитет 1000 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)и се разтваря дестилирана вода, довежда се до марката, разбърква се добре.

Стандартен разтвор на молибден и хром, съдържащ 0,01 мг/смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)молибден и 0,01 мг/смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)хром: 0,0184 г молибденовокислого ацетат и 0,0283 г двухромовокислого калий се поставят в мерителна колба с капацитет от 100 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), се разтваря в дестилирана вода, довежда се до марката, разбърква се добре.

Основен разтвор на мед и цинк, съдържаща 0,1 мг/cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)мед и 0,5 мг/смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)цинк: 0,1000 г мед и 0,5000 грама цинк се поставя в химически чаша с капацитет от 100 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)и се разтварят при нагряване 50 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)смес от солна и азотна киселини (1:5), след разтваряне на мед и цинк разтворът се охлажда и се прехвърля в мерителна колба с капацитет 1000 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), долива дестилирана вода до марката, разбърква се добре. От основния разтвор на избрани 10 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)и се прехвърля в мерителна колба с капацитет от 100 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), долива дестилирана вода до марката, разбърква се добре. Този разтвор, съдържащ 0,01 мг/cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)мед и 0,05 мг/смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)цинк се използва като стандартен разтвор.

Стандартен разтвор на волфрам, съдържащ 0,005 мг/смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)волфрам: 0,00897 г вольфрамовокислого натрий се разтварят в дестилирана вода в триизмерна колба с капацитет 1000 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), долива дестилирана вода до марката, разбърква се добре.

Основен разтвор на тантала, съдържащ 0,5 mg/смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)тантала: 0610 г пятиокиси тантала сплавляют ще заглуши в пещ с 2 г пиросернокислого натрий при 900 °C до получаване на бистър плава. Плав се разтваря при варене на 40 см,ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)10% разтвор на виннокислого ацетат, разтворът се охлажда, се прехвърлят в мерителна колба с капацитет от 100 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), долива дестилирана вода до марката, разбърква се добре.

Стандартен разтвор на тантала се приготвя в деня на употребата. От основния разтвор изберете 2 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), се прехвърлят в мерителна колба с капацитет 1000 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)и се долива до марката 8% разтвор на виннокислого ацетат, разбърква се добре. В стандартен разтвор на тантала съдържа 0,001 мг/смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)тантала.

Стандартен разтвор на желязо, съдържащ 10 mg/смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)желязо: 1,000 гр на желязо се поставя в химически чаша с капацитет от 100 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), добавя се 30 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)концентрирана солна киселина и 1,5 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)азотна киселина и се загрява до пълно разтваряне на навески, след охлаждане на разтвора се прехвърлят в мерителна колба с капацитет от 100 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), долива дестилирана вода до марката, разбърква се добре.

Стандартен разтвор на кобалт, съдържащ 0,002 mg/смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)кобалт: 0,00200 г кобалт се поставя в химически чаша с капацитет от 50 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)и се разтварят в малко количество азотна киселина, разтвор се прехвърлят в мерителна колба с капацитет 1000 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), долива дестилирана вода до марката, разбърква се добре.

Стандартен разтвор на арсен, съдържащ 0,01 мг/смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)арсен: 0,0100 г арсен се поставя в химически чаша с капацитет от 50 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)и се разтварят при нагряване до 5 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)на сярна киселина, след разтваряне на арсен разтвор се изпарява към около 1 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), се охлажда и се прехвърля в мерителна колба с капацитет 1000 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), долива дестилирана вода до марката, разбърква се добре.

Основен разтвор на европия, лютеция и lantana, съдържащ 0,01 мг/смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)европия, на 0,01 mg/смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)лютеция и 0,05 мг/смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)lantana: 0,0116 г въглероден европия, 0,0114 г въглероден лютеция и 0,0596 г въглероден lantana се поставя в химически чаша с капацитет от 100 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), се добавя 20 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)концентрирана солна киселина, разредена с дестилирана вода в съотношение 1:1, се разтварят при нагряване, охлаждане и се прехвърлят в мерителна колба с капацитет 1000 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), долива дестилирана вода до марката, разбърква се добре. От основния разтвор на избрани 2.0 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)и се прехвърля в мерителна колба с капацитет 1000 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), долива дестилирана вода до марката, разбърква се добре.

Този разтвор, съдържащ 0,0002 mg/смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)европия, 0,0002 mg/смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)лютеция и 0,001 мг/смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)lantana, се използва като стандартен разтвор.

Основен разтвор на скандия, съдържаща 0,1 мг/смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)скандия: 0,1500 г въглероден скандия се поставя в химически чаша с капацитет от 100 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), добавя се 25 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)концентрирана солна киселина, разредена с дестилирана вода в съотношение 1:1, се разтварят при нагряване, след охлаждане на разтвора се прехвърлят в мерителна колба с капацитет от 100 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), довежда до марката с дестилирана вода, разбърква се добре. Този разтвор съдържа 0,001 мг/смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)скандия, се използва като стандартен разтвор.

Основен разтвор на антимон, съдържащ 0,01 мг/смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)антимон: 0,0100 г антимон се разтваря в 5 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)царска водка (1 част азотна киселина и 3 част на солна киселина при нагряване, след отстраняване на азотни оксиди разтвор се прехвърлят в мерителна колба с капацитет 1000 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), се разрежда с 6 М разтвор на солна киселина до марката, разбърква се добре. От основния разтвор на избрани 10 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)и се прехвърля в мерителна колба с капацитет от 100 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), довежда до маркер, 6 М разтвор на солна киселина, разбърква се добре. Този разтвор съдържа 0,001 мг/смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)антимон, и се използват като стандартен разтвор.

Основен разтвор на злато, съдържащ 0,01 мг/cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)злато: 0,0100 г злато се разтваря в 5 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)царска водка при нагряване, след отстраняване на азотни оксиди разтвор се прехвърлят в мерителна колба с капацитет 1000 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), долива дестилирана вода до марката, разбърква се добре. От основния разтвор на избрани 2.0 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)и се прехвърля в мерителна колба с капацитет от 100 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), долива дестилирана вода до марката, разбърква се добре. Този разтвор, съдържащ 0,0002 mg/cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)злато, които се използват като стандартен разтвор на злато.

Стандартен разтвор на никел, съдържащ 0,5 mg/смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)никел: 0,0704 г въглероден никел е поставена в химически чаша с капацитет от 50 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)и се разтваря в 10 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)разредена азотна киселина, разтвор се прехвърлят в мерителна колба с капацитет от 100 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), долива дестилирана вода до марката, разбърква се добре.

Стандартен разтвор на индия, съдържащ 0,01 мг/смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)индия: 0,0100 г индия се поставя в химически чаша с капацитет от 50 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)и се разтварят при нагряване в по-малко количество царска водка (1 част азотна киселина и 3 част на солна киселина), след охлаждане на разтвора се прехвърлят в мерителна колба с капацитет 1000 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), долива дестилирана вода до марката, разбърква се добре.

Стандартен разтвор на галий, съдържащ 0,01 мг/смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)галий: 0,0100 г нитрид се разтваря в малко количество царска водка (1 част азотна киселина и 3 част на солна киселина) в химическите чаша с капацитет от 50 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), когато се загрее, след охлаждане на разтвора се прехвърлят в мерителна колба с капацитет 1000 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), довежда до марката с 1% разтвор на солна киселина, разбърква се добре.

Поносите, Изъм. N 1).

3. ПОДГОТОВКА ЗА АНАЛИЗ

3.1. Подготовка на анализираните проби и мостри за сравнение за изрязване

Молив случай за облъчване и алуминиево фолио за опаковане на проби и мостри за сравнение се измива с ацетон, а след това с алкохол.

От всяка тестова проба избрани две навески с дебелина 2−3 мм, с тегло 4−6 грама, се поставя всяка навеску в алуминиев пакет, етикетирани.

Общата маса на анализираните проби в пенале не трябва да надвишава 30 г.

От всеки стандартен разтвор са подбрани по 0,1 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)и накапывают на отделните ивици от филтърна хартия «синята лента», в размер на 1х3 см, изсушени, под инфрачервена лампа, след това лента, поставени в три слоя до размер 1х1 см и е увит в алуминиево фолио, етикетирани. В контейнера за облъчване се поставят едновременно с образци на два сравнение проба на всеки определен елемент. Във всяка проба сравнение съдържа: волфрам 0,0005 mg, галий 0,001 мг, европия 0,00002 мг, желязо 1,0 mg, злато 0,00002 мг, индия 0,001 мг, кобалт 0,002 мг, lantana 0,0001 mg, лютеция 0,00002 мг, мед 0,001 мг, молибден 0,001 мг, арсен 0,001 мг, натрий 0,005 мг, никел 0,5 mg, скандия 0,0001 mg, сребро 0,0002 mg, антимон 0,0001 mg, тантала 0,0001 mg, хром 0,001 мг, цинк 0,005 мг

Във всеки молив случай за облъчване се поставя една ивица от филтърна хартия, приготвени и опаковани, както е описано по-горе, но без накапанных на нея стандартни разтвори.

Молив случай с анализируемыми проби и образци за сравнение облучают на ядрен реактор в продължение на:

100 ч, ако очакваната маса делът на примеси, които трябва да се определи, е по-малко от 10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)% тегловни;

10 ч, ако очакваната маса делът на примеси, които трябва да се определи, е над 10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)% от масите.

Облученные проби се транспортират до лабораторията в свинцовом транспортния контейнер КЛ-10,0.

Поносите, Изъм. N 1).

4. ПРОВЕЖДАНЕ НА АНАЛИЗ НА

4.1. Обработка на анализираните проби и образци за сравнение след облъчване

Молив случай с облученными анализируемыми проби и образци за сравнение се поставят в защитен бокс тип 1Б11−1НЖ. След 25−30 ч след облъчване, анализирани проби освободи от алуминиеви опаковки и се поставят във фторопластовые чаши и три пъти, гравиран прясно приготвена смес от азотна и фтористоводородной киселини (5:1). По време на всяко офорт 20−40 с без отопление. След киселина ецване на пробата се третира с 10% разтвор на основи, в рамките на 40−80 в. След всеки гравиран проби се измива с вода, а до края на алкално ецване, след това се изсушава под инфрачервена лампа, теглят на аналитични везни, опаковани в алуминиево фолио, етикетирани.

Образци за сравнение и ивици от филтърна хартия, без накапанных на нея стандартни разтвори, екстракт от алуминиеви опаковки и се поставя в необлученные алуминиеви пакети.

Анализирани проби и образци за сравнение се поставят в различни защитни контейнери тип КАТ.

4.2. Подготовка на гама-спектрометър за измерване на дейността и измерване на активността на анализираните проби и образци за сравнение

Измерване на активността на анализираните проби и образци за сравнение предхожда калибровка на спектрометъра по енергии с помощта на набор от ОСГИ. При калибриране подберете такова усилване на сигнали, при който на 1 канал анализатор представляват 0,7−1,0 производство.

Пред измерване на активност на проби от тази мярка в продължение на 30−40 мин ниво на естествения фон на детектора. Ако в спектъра се намират на гама-линията на радионуклиди, които могат да бъдат идентифицирани като изкуствено радиоактивни вещества, се вземат мерки, за намаляване на фон до нивото на естествения фон на детектора, което се дължи на естествено-радиоактивни елементи, които се намирали в материалите, околните детектор (стени, защита на данните и други подобни).

При измерване на активност на проби и мостри за сравнение зареждане на спектрометър, не трябва да доведе до изкривяване на формата на амплитудного разпределението на повече от 10%.

Ако е необходимо да се намали качването на спектрометъра от спирачния на радиация, причинено от радионуклиди, се формира от силиций и от ниско потребление на енергия за гама-кванти на мвр примесных елементи, се използва филтър радиация — слой от алуминий 3 мм слой желязо с дебелина 3−4 mm.

Ако е необходимо да се намали качването на спектрометъра само от ниско-енергийна радиация на мвр примесных елементи, се използва филтър радиация — слой алуминий от 2 мм слой олово 2−3 мм.

Като аналитични използват гама-линия на мвр, които са дадени в таблица.1.

Таблица 1

     
Определен елемент (радионуклид) Полуживот на радионуклида
Енергия аналитична гама-линия, производство*

Волфрам (ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)W)

23,9 ч 686

Галлий (ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Ga)

14,1 ч 834

Европий (ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Eu)

9,3 ч 841

Желязо (ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Fe)

44,6 на деня 1099

Златото (ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Au)

2,7 дни 412

Индий (ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)In)

49,5 на деня 192

Кобалт (ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Co)

5,26 г. 1332

Лантан (ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)La)

40,2 ч 1596

Лютеций (ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Lu)

6,7 дни 208

Мед (ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Cu)

12,8 ч 511

Молибден (ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Mo)

66,0 ч 140

Арсен (ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)As)

26,3 ч 559

Натрий (ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Na)

15,0 ч 1368

Никел (ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)С)

До 71.3 на деня 811

Среброто (ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Ag)

253 дни 657

Скандий (ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Sc)

84,0 на деня 889

Антимон (ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Sb)

2,71 дни 564

Тантал (ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Ta)

115 дни 1189

Хром (ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Cr)

27,7 на деня 320

Цинк (ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Zn)

14,0 ч 439

______________
* Преводна множител 1 производство=1,602·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)ерг


Време за измерване активност на анализираните проби зависи от съдържанието на определени елементи и е 1−6 чаена Време на измерване на активност на проби за сравнение и ленти от филтърна хартия, която не е накапан стандартен разтвор, е 1−3 мин. Време на експозиция на проби зависи от масови акции и съотношението примесных елементи в анализираните проби. За проби, в които масово споделят высокоактивирующихся примесных елементи (натрий, скандия, кобалт, мед, галий, арсен, бром, антимон, редки земни елементи, гафния, тантала, волфрам, рения, иридий и злато) не по — (1−3)·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%, волфрам, галлий, европий, лантан, мед, арсен, натрий и цинк определят при време на експозицията, което е равно на 20−30 ч, а останалите елементи — при време на затвора 60−100 чаена Ако масова акция, изброени по-горе высокоактивирующихся елементи по-малко (1−3)·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%допуска едновременното определяне на всички елементи след отлежаване в продължение на 25−30 часа

Спектрите на пробите расшифровывают по енергии са най-интензивни гама-линии на мвр дефинирани елементи с помощта на калибриране спектрометър на енергия и за състоянието на аналитични гама-линии в спектъра на проби сравнение.

4.1, 4.2. Поносите, Изъм. N 1).

5. ОБРАБОТКА НА РЕЗУЛТАТИТЕ

5.1. Масови акции дефинирани елементи (ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)) в процент изчисляват по формулата

ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1),


където ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)е броят импулси в изследователски върха на радионуклида дефинирани елемент в спектъра на анализирания проба, инфекции на пикочните пътища;

ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1) — броят импулси в изследователски пике в спектъра на проби сравнение 1 и 2 съответно, инфекции на пикочните пътища;

ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1) — по време на измерването на спектъра на анализирания за вземане на проби и образци за сравнение 1 и 2 съответно, мин;

ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1) — тегло на анализирания проба, mg;

ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1) — съдържанието на дефинираните елемента в извадката сравнение, mg;

ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1) — поправочный драг, поради различия в геометрични размери на анализирания за вземане на проби и образци за сравнение; е експериментално за всеки детектор (ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)1);

ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1) — на полуживот на радионуклида;

ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1) — интервал между часовете на измерване на спектъра на пробата сравнение 1 и сравнение проба 2 и междинна време за измерване на спектъра на анализирания проба.

Изменение на разпадането на мвр могат да не се вземат под внимание при ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), където ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)има ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)или ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), т. е. обикновено при изчисляване на масовата акция скандия, хром, кобалт, желязо, сребро, лютеция, индия, тантала и антимон. В този случай

ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1).


Поправочный коефициент ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), който отчита различна форма на анализираните проби и образци за сравнение, определят експериментално. Облучают навеску силициев диоксид (кварц) по тегло и форма, близка до анализират образци. Тази навеска трябва да съдържа примеси елементи, от които се образуват радионуклиди с енергиите на гама-линии в областта на 0,1−0,2 МэВ, 0,4−0,5 МэВ и 1−1,3 МэВ. Такива елементи могат да бъдат, например, волфрам и тантал, гафний и кобалт и др Посочените елементи могат да бъдат въведени като добавки (насипни делът на 10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)-10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%), силиций или кварц, пюре до прахообразен състояние в агатовой хаван под слой от алкохол, или може да се използва силиций, легирана с тези елементи. След облъчване се измерва специфична интензивност на съответните гама-линии (имп/мин·mg) за цялата навески ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)и част навески (размер 1х1 см, тегло 100−200 мг) ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1). Отношението ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)дава стойността на поправочного коефициент ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)за енергия на съответната гама-линията. Стойности ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)за междинните стойности на аналитични гама-линии намират метод на линейна интерполация.

При определяне на мед по линия на аннигилляционного радиация ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Cu (ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)511 производство) трябва да се разгледа възможността за влоговете на гама-линията ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)W (ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)511,6 производство) и линии аннигилляционного радиация от мвр ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Na, ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Ga и ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Zn. С тази цел измерване на активността на анализирания проба и да установят наличието в спектъра на мвр волфрам, галий, натрий и цинк. Ако някое от следните елементи присъстват в разбор проба, след това проби в сравнение на данните елементи измерват не само интензивността на аналитични гама-линии, но и интензивността на линии с енергия 511 производство, а за карбид 511,6 производство.

При изчисляване на масовата акция на мед в разбор проба силиций брой импулси в изследователски пике ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Cu (ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)) се определят по формулата

ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1),


където ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)е броят импулси в гама-линията с енергия 511 и 511,6 производство, предизвикани от радиация ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Cu и радиация на мвр елементи смущения, инфекции на пикочните пътища;

ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1) — броят импулси в изследване на гама-линията на радионуклида елемент-смущения в спектъра на анализирания проба, инфекции на пикочните пътища (за ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Na — 1368 производство, ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Zn — 1115 производство, ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Ga — 834 производство, ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)W — 686 производство);

ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1) — скорост на сметки импулси в гама-линия 511 производство (за карбид 511,6 производство) в спектъра на пробата сравнение имп/мин;

ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1) — скорост на импулси в изследване на гама-линията на радионуклида елемент-смущения в спектъра на пробата сравнение, имп/мин;

ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1) — брой на мвр-смущения, взети в предвид.

При определяне на индия за гама-линията ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)In ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)192 производство принос на гама-линията на ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)Fe отчитат аналогично на описания по-горе за мед.

Присъствието на определени елементи (най-често натрий, мед и скандия) в полосках филтърна хартия, на която накапывают стандартни разтвори, отчетени по формулата

ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1),


където ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)е скоростта на сметки импулси изследване на гама-линията на радионуклида дефинирани елемент, причинени от съдържанието на този елемент, накапанным от пробата за сравнение, имп/мин;

ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1) — скорост на сметки импулси изследване на гама-линията на радионуклида дефинирани елемент, получена при измерване на проба сравнение, имп/мин;

ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1) — скорост на сметки импулси на гама-линията на радионуклида дефинирани елемент, причинени от присъствието на този елемент в филтърна хартия, инфекции на пикочните пътища/мин.

За всяка дефинирани маркера за резултата от анализа вземат средно аритметично на две резултати от паралелни определяния, проведени от всяко от отделна навески като в pp.3.1; 4.1; 4.2 и 5.1.

5.2. Разликата е по-голям и по-малък от две резултати от паралелни определения, не трябва да надвишава количествата, абсолютни установените несъответствия за надеждната вероятност ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)0,90, посочени в таблица.2.

5.3. За проверка на верността на резултатите от анализа се приготвя изкуствени смеси (N 1−4) на базата на полупроводникови силиций, смазани в агатовой хаван до прахообразен състоянието, в което се инжектира дефинирани елементи от въвеждането на по-рано пригоповленных стандартни разтвори (разд.2). Прах силиций предварително проверяват нейтронно-активационным метод на съдържанието на всички дефинирани елементи. Фракцията на масата на определени елементи в прахообразна силиций трябва да бъде не повече от 20% от съдържанието на елементи, въвеждане под формата на добавки от разтвори.

Маса делът на всяка от вложените добавки трябва да бъде не по-малко от тройната стойността на долната граница на определени съдържания на елементи от техника и не повече от горната граница на определени съдържания на елементите.

Таблица 2

     
Определен елемент Фракцията на масата дефинирани елемент, % Абсолютно + / отклонение, %
Желязо, никел

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,23·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,23·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,30·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

2,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

Молибден, хром, цинк, лютеций

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,30·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

5,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

2,2·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

5,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

2,2·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,5·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

Индий

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,30·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,40·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,50·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

Волфрам, европий, лантан, арсен

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,23·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,23·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,25·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,50·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

Галлий

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,23·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,23·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,30·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

2,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

Мед

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,23·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,23·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,30·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,50·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

Натрий

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,23·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,25·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,50·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

Сребро

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,23·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,23·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,30·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,50·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

Злато, скандий

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,23·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,23·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,30·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,50·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

Кобалт, антимон, тантал

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,23·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,23·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,30·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

 

1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)

0,50·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)



Прах силиций се поставя в агатовую хоросан, се инжектират разтвори, дефинирани елементи, след това под слой от алкохол сбиване смес от 2,5−3 часа и след това се изсушава смес под инфрачервена лампа, до постоянна маса.

Смес 1: 10,0 g прах силиций добавят 0,1 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)разтвори, съдържащи натрий, лантан, европий, лютеций и скандий. Масовата акция на натрий в получената смес ще бъде 1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%, lantana 1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%, европия 2,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%, лютеция 2,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%, скандия 1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%.

Смес 2: 10,0 g прах силиций добавя 0,05 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)разтвори, съдържащи сребро и хром, до 0.1 cmГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)разтвори, съдържащи сурьму и молибден. Фракцията на масата на сребро в получената смес ще бъде 1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)% хром-5,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%, антимон 1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)% и молибден 5,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%.

Смес 3: 10,0 g прах силиций добавя 0,05 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)разтвори, съдържащи кобалт и тантал, 0,02 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)разтвор, съдържащи желязо, и по 0,1 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)разтвори, съдържащи арсен и галлий. Масовата акция на кобалт в получената смес ще бъде 1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%, тантала 5,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%, желязо 1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%, арсен 1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%
и галий 1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%.

Смес 4: 10,0 g прах силиций се добавя 0,05 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)разтвор, съдържащи мед и цинк, 0,1 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)разтвор, съдържащи злато, 0,02 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)разтвор, съдържащ никел, и 0,1 смГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)разтвор, съдържащи индий. Фракцията на масата на медта в получената смес ще бъде 1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%, цинк-5,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%, злато 2,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%, волфрам 5,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%, никел 1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)% и индия-5,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)%.

От всяка приготвени смеси са избрани три навески от 2,0 грама и анализират в pp.3.1−4.3 и по разд.5.

Време на експозиция навесок изкуствени смеси при определяне на елементи приведени в таблица.3.

Таблица 3

     
Номер на сместа
Определен елемент Време на експозиция, ч
1
Натрий, европий 30−70
  Лантан 50−80
  Лютеций, скандий Над 100
2
Молибден, антимон 30−70
  Сребро, хром Над 100
3
Галлий, арсен 30−40
  Кобалт, желязо, тантал Над 100
4
Волфрам, мед, цинк 30−40
  Индий, никел Над 100
  Злато 80−120



За всяка определени примеси получават в резултат на анализ (намалена маса на пазарен елемент в прахообразна силиций преди въвеждането на добавки), като средно аритметично от трите резултати паралелни определения, проведено всяка от навески 2,0 г. Анализът се счита за правилен, ако откриха при това стойностите на масова акция на примеси (%) се намират в рамките на: волфрам 5,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)±0,8·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), галлий 1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)±0,2·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), европий 2·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)±0,4·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), злато 2,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)±0,4·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), кобалт 1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)±0,2·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), лютеций 2,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)±0,4·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), молибден 5,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)±1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), натрий 1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)±0,2·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), скандий 1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)±0,2·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), антимон 1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)±0,2·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1), хром 5,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1)±1,0·10ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (с Изменением N 1).

Забранени разлики за междинни стойности на масови акции се намират по метода на линейно интерполирования.

Поносите, Изъм. N 1).